隨著顆粒技術(shù)的發(fā)展，顆粒測(cè)試技術(shù)已經(jīng)受到廣泛的關(guān)注與重視

　　2.顆粒測(cè)試技術(shù)進(jìn)展

　　近年來(lái)顆粒測(cè)試技術(shù)進(jìn)展很快，表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

　　1）激光粒度測(cè)試技術(shù)更加成熟，激光衍射/散射技術(shù)，現(xiàn)在已經(jīng)成為顆粒測(cè)試的主流.其主要特點(diǎn)：測(cè)試速度快，重復(fù)性好，分辨率高，測(cè)試范圍廣得到了進(jìn)一步的發(fā)揮.激光粒度分析技術(shù)zui近幾年的主要進(jìn)展在于提高分辨率和擴(kuò)大測(cè)量范圍.探測(cè)器尺寸增加，附加探頭的使用擴(kuò)大了測(cè)量范圍;多種激光光源的使用、多鏡頭、會(huì)聚光路、多量程、可移動(dòng)樣品窗的使用提高了分辨率，采樣速度的提高則進(jìn)一步改善了儀器的重復(fù)性.英國(guó)馬爾文公司GM2000系列激光粒度儀采用高能量藍(lán)光輔助光源和匯聚光學(xué)系統(tǒng)，測(cè)量范圍達(dá)到0.022000微米，不需更換透鏡.貝克曼庫(kù)爾特公司采用多波長(zhǎng)偏振光雙鏡頭技術(shù)將測(cè)量范圍擴(kuò)展到0.04?2000微米.代表了當(dāng)前的先進(jìn)水平.國(guó)產(chǎn)的激光粒度儀在制作工藝和自動(dòng)化程度上尚有欠缺，但大多數(shù)在重復(fù)性準(zhǔn)確度方面也達(dá)到了13320標(biāo)準(zhǔn)的要求.目前激光粒度分析儀在技術(shù)上，已經(jīng)達(dá)到了相當(dāng)成熟的階段.

　　米氏理論模型可以提高儀器的分辨率，但是需要事先了解被測(cè)樣品的折射率和吸收系數(shù)，才可能獲得正確的結(jié)果.

　　測(cè)試結(jié)果的優(yōu)劣不僅取決于測(cè)試系統(tǒng)和計(jì)算模型，更加取決于樣品的分散狀態(tài).激光粒度儀對(duì)樣品的分散要求是，分散而不分離.儀器廠家應(yīng)更加注意樣品分散系統(tǒng)設(shè)計(jì).盡量避免小顆粒團(tuán)聚，大顆粒沉降，大小顆粒離析，樣品輸運(yùn)過(guò)程的損耗，外界雜質(zhì)的侵入.對(duì)于不同樣品選用不同的分散劑和不同的分散操作應(yīng)該引起測(cè)試者的注意.

　　任何原理的儀器測(cè)試范圍都不是可以無(wú)限擴(kuò)展的.靜態(tài)光散射原理的激光粒度分析向納米顆粒的擴(kuò)展和向毫米方向的擴(kuò)展極限值得探討.毫米級(jí)的顆粒只需光學(xué)成像技術(shù)就可以輕易解決的測(cè)量問(wèn)題采用激光散射原理則并不是優(yōu)勢(shì)所在.

　　2）圖像顆粒分析技術(shù)東山再起

　　圖像顆粒分析技術(shù)是一種傳統(tǒng)的顆粒測(cè)試技術(shù)，由于樣品制備操作較繁瑣、代表性差、曾經(jīng)作為一種輔助手段而存在，他的直觀的特點(diǎn)沒(méi)有發(fā)揮出來(lái).為了解決采樣代表性問(wèn)題，有人使用圖像拼接技術(shù)或者多幅圖像數(shù)據(jù)累加技術(shù)可以有效提高分析粒子數(shù)量，采用標(biāo)準(zhǔn)分析處理模式的圖像儀則可以將操作誤差減小，這些改進(jìn)取得了一定的效果.zui近幾年動(dòng)態(tài)圖像處理技術(shù)的出現(xiàn)使傳統(tǒng)度顆粒圖像分析儀備受關(guān)注，大有東山再起之勢(shì).動(dòng)態(tài)圖像處理的核心是采用顆粒同步頻閃捕捉技術(shù)，拍攝運(yùn)動(dòng)顆粒圖像，因此減少了載玻片上樣品制備的繁瑣操作，提高了采樣的代表性，而且可用于運(yùn)動(dòng)顆粒在線(xiàn)測(cè)量.這就大大擴(kuò)展了圖像分析技術(shù)的應(yīng)用范圍和可操作性.荷蘭安米德公司的粒度粒形分析儀是有代表性的產(chǎn)品。它采用CCD頻閃技術(shù)測(cè)顆粒形狀、采用光束掃描技術(shù)測(cè)顆粒大小?？蓽y(cè)zui大粒徑為6毫米。如果顆粒在光學(xué)采樣過(guò)程不發(fā)生離析現(xiàn)象，此種儀器在微米與毫米級(jí)顆粒測(cè)量中可能會(huì)得到廣泛的應(yīng)用.