原理

　　利用高速旋轉(zhuǎn)的葉片和固定的磨盤之間的摩擦力，將顆粒物研磨成細(xì)小的顆粒。在研磨過程中，顆粒物會(huì)受到離心力和重力的作用，同時(shí)也會(huì)產(chǎn)生摩擦力和撞擊力，使得顆粒物被不斷地切割、摩擦和混合，最終形成細(xì)小的顆粒。這些細(xì)小的顆粒可以用于粒度分析和篩選，以達(dá)到檢測顆粒物粒度分布的目的。

　　測量方法

　　通常采用激光光束法和光電法等測量方法。激光光束法是利用激光束通過顆粒物時(shí)反射和散射的光強(qiáng)度來測量其粒度分布。光電法是利用光電傳感器測量顆粒物的電荷，從而測量其粒度分布。這些方法可以同時(shí)測量顆粒物的粒度和粒徑分布，以獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。

　　應(yīng)用

　　粒度分布儀可用于控制生產(chǎn)過程中的顆粒大小，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和穩(wěn)定性。在科學(xué)研究中可用于研究顆粒物的物理和化學(xué)性質(zhì)，以探索其應(yīng)用價(jià)值和生物學(xué)機(jī)理。此外此分布儀還可用于研究顆粒物的生產(chǎn)工藝和產(chǎn)品質(zhì)量，以提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

　　粒度分布儀是一種重要的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中。未來此分布儀將會(huì)不斷地提高性能，擴(kuò)大應(yīng)用領(lǐng)域，并與其他實(shí)驗(yàn)室設(shè)備進(jìn)行更加緊密的集成和協(xié)作。同時(shí)，我們也需要注重環(huán)保和節(jié)能，采用更加先進(jìn)的研磨技術(shù)和材料。